Многооборотный спиральный времяпролетный масс-анализатор на основе цилиндрических секторных полей и периодических линз

 
Код статьиS086858860001100-2-1
DOI10.31857/S086858860001100-2
Тип публикации Статья
Статус публикации Опубликовано
Авторы
Аффилиация: Институт аналитического приборостроения РАН
Адрес: Российская Федерация, Санкт-Петербург
Аффилиация: MSC-CG D.O.O., Bar
Адрес: Черногория
Аффилиация: Политехнический Университет Петра Великого
Адрес: Российская Федерация, Cанкт-Петербург
Название журналаНаучное приборостроение
ВыпускТом 28 Номер 3
Страницы84-89
Аннотация

В работе на основе численных расчетов исследована возможность использования в многооборотных сектор-ных времяпролетных масс-анализаторах со спиральным движением ионов массива периодических линз, аналогичного применяемому в зеркальных многоотражательных времяпролетных анализаторах. Показано, что такое решение не ухудшает разрешающую способность масс-анализа, существенно упрощая конструк-цию анализатора за счет использования цилиндрических секторных полей и добавляя возможность удвоения длины пути пролета с помощью разворота ионов в направлении спирального дрейфа

Ключевые слова времяпролетный масс-анализатор, периодические линзы, цилиндрический дефлектор, разрешающая способность, фокусировка времени пролета
Получено09.10.2018
Дата публикации10.10.2018
Кол-во символов567
Цитировать   Скачать pdf Для скачивания PDF необходимо авторизоваться
Размещенный ниже текст является ознакомительной версией и может не соответствовать печатной.

всего просмотров: 1213

Оценка читателей: голосов 0

1. Явор М.И., Веренчиков А.Н. Сравнительный анализ многопроходных времяпролетных масс-анализаторов на основе зеркал и секторных полей // Научное при-боростроение. 2006. Т. 16, № 3. С. 21–29. URL: http://213.170.69.26/mag/2006/abst3.php#abst2.

2. Toyoda M., Okumura D., Ishihara M., Katakuse I. Multi-turn time-of-flight mass spectrometers with electrostatic sectors // J. Mass Spectrom. 2003. Vol. 38, no. 11. P. 1125–1142.

3. Satoh T., Tsuno H., Iwanaga M., Kammei Y. The design and characteristic features of a new time-of-flight mass spectrometer with a spiral ion trajectory // J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2005. Vol. 16. P. 1969–1975.

4. Yavor M., Verentchikov A., Hasin Ju., Kozlov B., Gavrik M., Trufanov A. Planar multi-reflecting time-of-flight mass analyzer with a jig-saw ion path // Physics Procedia. 2008. Vol. 1, no. 1. P. 391–400.

5. Verenchikov A., Yavor M. Mass analyzer having extended flight path. Patent PCT WO2018033494, 2018.

6. Yavor M. Optics of charged particle analyzers. Acad. Press, Amsterdam, 2009.

7. Wollnik H., Harmann B., Berz M. Principles of GIOS and COSY // AIP Conf. Proc. 1988. Vol. 177. P. 74–85.

8. Manura D.J., Dahl D.A. SIMIONTM 8.0 User Manual. Sci. Instrument Services, Inc., Idaho Nat. Lab., 2006.

9. Verenchikov A., Kirillov S., Khasin Yu., Makarov V., Ya-vor M., Artaev V. Multiplexing in multi-reflecting TOF MS // J. Applied Solution Chemistry and Modeling. 2017. Vol. 6. P. 1–22.

Система Orphus

Загрузка...
Вверх