Библиометрический анализ публикаций в области полупроводниковых наноструктур

 
Код статьиS086958730000086-2-1
DOI10.31857/S086958730000086-2
Тип публикации Статья
Статус публикации Опубликовано
Авторы
Должность: кандидат физикоматематических наук, ведущий научный сотрудник ЦЭМИ РАН
Аффилиация: Центральный экономико-математический институт РАН
Название журналаВестник Российской академии наук
ВыпускТом 88 Номер 7
Страницы630-636
Аннотация

Выполнен библиометрический анализ публикаций ряда стран в области полупроводниковых наноструктур в период 2000–2016 гг. Особенно подробно рассмотрен вклад российских участников исследований, а также структура международных научных связей отечественных учёных. Исходный массив публикаций извлечён из базы данных Science Citation Index Expanded с использованием релевантных ключевых слов. Информация для анализа патентной активности получена из баз данных Роспатента, US PTO и WIPO PATENTSCope.

Ключевые словаполупроводниковые наноструктуры, библиометрический анализ, научные публикации, цитируемость, центр научного совершенства, патентная активность
Получено01.10.2018
Дата публикации01.10.2018
Кол-во символов492
Цитировать   Скачать pdf Для скачивания PDF необходимо авторизоваться
Размещенный ниже текст является ознакомительной версией и может не соответствовать печатной.

всего просмотров: 1472

Оценка читателей: голосов 0

1. Terekhov A.I. Bibliometric spectroscopy of Russia’s nanotechnology: 2000–2014 // Scientometrics. 2017. V. 110. № 3. P. 1217–1242.

2. Терехов А.И. Библиометрический анализ углеродного направления нанотехнологий: 2000–2015 // Экономика науки. 2017. № 4. С. 262–274.

3. Екимов А.И., Онущенко А.А. Квантовый размерный эффект в трёхмерных микрокристаллах полупроводников // Письма в ЖЭТФ. 1981. № 6. С. 363–366.

4. Алфёров Ж.И. История и будущее полупроводниковых гетероструктур // Физика и техника полупроводников. 1998. № 1. С. 3–18.

5. Karaulova M., Gok A., Shackleton O., Shapira P. Science system path-dependencies and their influences: Nanotechnology research in Russia // Scientometrics. 2016. V. 107. № 2. P. 645–670.

6. Tijssen R.J.W., Visser M.S., Van Leeuwen T.N. Benchmarking international scientific excellence: are highly cited research papers an appropriate frame of reference? // Scientometrics. 2002. V. 54. № 3. P. 381–397.

Система Orphus

Загрузка...
Вверх