Учет особенностей управления туннельным микроскопом при интерпретации измерений

В работе исследуется алгоритм интерпретации измерений, который учитывает особенности управления туннельным микроскопом. Выводятся условия, при выполнении которых модель поверхности нанорельефа, построенная по результатам измерений совпадает с измеряемой поверхностью. Описаны особенности нанорельефа, которые не могут быть воспроизведены с помощью предложенного способа интерпретации измерений.

Ключевые слова

Получено

08.01.2019

Дата публикации

08.01.2019

Цитировать Скачать pdf Для скачивания PDF необходимо авторизоваться

ГОСТ	Карташев В. А. , Карташев В. В. Учет особенностей управления туннельным микроскопом при интерпретации измерений // Известия Российской академии наук. Теория и системы управления – 2018. – Номер 5 C. 117-121 [Электронный ресурс]. URL: http://ras.jes.su/tisu/s000233880002850-4-1 (дата обращения: 28.04.2024). DOI: 10.31857/S000233880002850-4
MLA	Kartashev, V., Kartashev, V. "Consideration of the features of tunnel microscope control when interpreting measurements." Izvestiia Rossiiskoi akademii nauk. Teoriia i sistemy upravleniia 5 (2018):117-121. DOI: 10.31857/S000233880002850-4
APA	Kartashev V., Kartashev V. (2018). Consideration of the features of tunnel microscope control when interpreting measurements. Izvestiia Rossiiskoi akademii nauk. Teoriia i sistemy upravleniia (5), pp.117-121 DOI: 10.31857/S000233880002850-4

Размещенный ниже текст является ознакомительной версией и может не соответствовать печатной.

всего просмотров: 936

Оценка читателей: голосов 0

1. Колесов Д.В., Яминский И.В. Кантилеверы для сканирующей зондовой микроскопии // Нано- и микросистемная техника. № 11, 2007, с. 5–11. М.: Новые технологии.

2. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии// М.: Техносфера, 2004. C. 140.

3. Bukharaev A.A., Berdunov N.V., Ovchinnikov D.V., Salikhov K.M. Three-dimensional probe and surface reconstruction for atomy force microscopy using deconvolution algorithm // Scanning microscopy. Vol. 12, No. 1, 1998 (p.p. 225–234). Chicago: AMF.

4. Карташев В.А., Карташев В.В. Влияние особенностей работы системы управления туннельного микроскопа на точность измерений // Известия Российской академии наук. Теория и системы управления. 2014. № 1. С. 130

5. Kartashev V.A., Kartashev V.V. Impact of features of control systems of the tunneling microscope on the measurement accuracy // Journal of Computer and Systems Sciences International. 2014. Т. 53. № 1. P. 124– 129.

6. Карташев В.А., Карташев В.В. Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа // Нано- и микросистемная техника. № 10, 2010, с. 7–10. М.: Новые технологии.