Детектирование пиков наномасштабных изображений в шумах

 
Код статьиS086858860001105-7-1
DOI10.31857/S086858860001105-7
Тип публикации Статья
Статус публикации Опубликовано
Авторы
Аффилиация: Институт аналитического приборостроения РАН
Адрес: Российская Федерация, Санкт-Петербург
Название журналаНаучное приборостроение
ВыпускТом 28 Номер 3
Страницы124-129
Аннотация

Предлагается новый помехоустойчивый алгоритм оценки положения и интенсивности пиков нанообъектов. Метод основан на обработке изображения по столбцам и строкам с использованием алгоритма поиска экс-тремумов по трем точкам в скользящем окне данных. Метод позволяет оценить положение и интенсивность пиков при отношении сигнал/шум до трех с вероятностью обнаружения до единицы, нулевой вероятностью пропуска пика и ложной тревоги.

Ключевые словананомасштабные изображения, обработка изображений, детектирование пиков
Получено09.10.2018
Дата публикации10.10.2018
Кол-во символов467
Цитировать   Скачать pdf Для скачивания PDF необходимо авторизоваться
Размещенный ниже текст является ознакомительной версией и может не соответствовать печатной.
1

          

всего просмотров: 1166

Оценка читателей: голосов 0

Система Orphus

Загрузка...
Вверх