всего просмотров: 1249
Оценка читателей: голосов 0
1. Силькис Э.Г., Станкевич А.С., Крашенниников В.Н. Системы регистрации спектров, миниспектрометры и эмиссионные спектрометры // Вузовско-академический сборник научных трудов "Проблемы спектроскопии и спектрометрии". Екатеринбург, 2014. С. 43– 67.
2. Перепелкин Г.А., Торубаров А.М., Чугаев Б.Н. Интерфейс прибора для неразрушающего контроля остаточных поверхностных напряжений // Прикладная информатика. 2016. № 1. С. 70–73.
3. Калмыков Э.А., Торубаров А.М. Способ экспресс-анализа механических поверхностных напряжений поликристаллических материалов и параметров их кристаллической решетки и устройство для его осуществления. Патент РФ №2387980 от 27 апреля 2010 г.