Прогнозирование вероятности безотказной работы микроконтроллера на геостационарной орбите

 
Код статьиS002342060002229-9-1
DOI10.31857/S002342060002229-9
Тип публикации Статья
Статус публикации Опубликовано
Авторы
Аффилиация:
Национальный исследовательский ядерный университет
Московский инженерно-физический институт
Аффилиация:
Национальный исследовательский ядерный университет
Московский инженерно-физический институт
Адрес: Российская Федерация, Москва
Аффилиация:
Национальный исследовательский ядерный университет
Московский инженерно-физический институт
Адрес: Российская Федерация, Москва
Название журналаКосмические исследования
ВыпускТом 56 Номер 5
Страницы428-433
Аннотация

По результатам радиационных испытаний микроконтроллеров типа ATmega-128 в широком диапазоне мощностей дозы и температур сделана оценка вероятности безотказной работы микроконтроллера в реальных условиях эксплуатации. Применена функция Эйринга для учета температурного воздействия.

Ключевые слова
Получено24.12.2018
Дата публикации24.12.2018
Цитировать   Скачать pdf Для скачивания PDF необходимо авторизоваться
Размещенный ниже текст является ознакомительной версией и может не соответствовать печатной.

всего просмотров: 506

Оценка читателей: голосов 0

1. Катеринич И.И., Малинин В.Г., Малышев М.М., Попов В.Д. Методика оценки вероятности безотказной работы изделий полупроводниковой электроники при эксплуатации их в составе радиоэлектронной аппаратуры космических объектов // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. Вып. 3-4. М.: ЦНИИ Атоминформ, 2001. С.111-116.

2. Попов В.Д., Хамидуллина Н.М. Методика оценки вероятности радиационно-стимулированных отказов интегральных микросхем в низкоинтенсивных радиационных полях. Применение к космическому аппарату СПЕКТР-Р // Космич. исслед. 2006. Т. 44. № 5. С.475-479. (Cosmic Research. P. 456)

3. Оценка сроков функционирования микроконтроллеров ATmega-128 при совместных дозовых и температурных воздействиях / В.С. Анашин, П.А. Чубунов, Н.Г. Радовский, И.И. Шагурин, А.В. Лебедев, В.Н. Сурнин, А.А. Романенко // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. Вып. 4. Лыткарино: НИИП. 2012. С. 35–40.

4. Поливанов А.П., Попов В.Д. Системные методы увеличения времени функционирования СБИС запоминающих устройств и бортовой аппаратуры космических аппаратов // Chip News. Инженерная микроэлектроника. 2004. № 7. С. 12–14.

5. Строгонов А. Оценка долговечности БИС по результатам ускоренных испытаний // Технологии в электронной промышленности. 2007. № 3. С. 90–96.

6. Analysis of Space Environment Measurement Carried out by the Roscosmos Monitoring System Elements / V.S. Anashin, G.A. Protopopov, O.S. Kozyukova, P.V. Binyukov, and A.P. Polinkin // IEEE Radiation Effects Data Workshop. Jul. 2014.

7. Анашин В.С., Емельянов В.В., Полинкин А.П., Базь А.Г., Бинюков П.В. Аппаратура контроля дозовых и одиночных эффектов // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. Вып. 2. Лыткарино: НИИП. 2014. С. 27–32.

Система Orphus

Загрузка...
Вверх