Гущин О. П.

Научно-исследовательский институт молекулярной электроники (АО “НИИМЭ”)

Название публикации	Оценка читателей
Исследование процесса сквозного плазмохимического травления HkMG стека нанотранзистора с критическим размером 32 нм (Микроэлектроника)	-

Редакции журналов

Контактные данные размещены

Издательство / Оператор

Российская академия наук

Государственный академический университет гуманитарных наук

Издательство ООО «Интеграция: Образование и Наука»

Разработчик платформы

ООО «И-ПК»

Загрузка...