Смирнов Е. А.

Крокус Наноэлектроника

Название публикации	Оценка читателей
Контроль качества многослойной спин-туннельной структуры с использованием комбинации методов анализа (Микроэлектроника)	-

Редакции журналов

Контактные данные размещены

Издательство / Оператор

Российская академия наук

Государственный академический университет гуманитарных наук

Издательство ООО «Интеграция: Образование и Наука»

Разработчик платформы

ООО «И-ПК»

Загрузка...

Вверх